涂层测厚仪采用无损检测方法测厚既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，故能使大量的检测工作经济地进行。在化工，电子，电力，金属等行业中，为了实现对各类材料的保护或装饰作用，通常采用喷涂有色金属覆盖以及磷化、阳极氧化处理等方法，这样便出现了涂层、镀层、敷层、贴层或化学生成膜等概念，我们称之为“覆层”。
覆层的厚度测量已成为金属加工工业已用户进行成品质量检测*的zui重要工序。是产品达到标准的*手段。目前，国内外已普遍按统一的标准测定涂镀层厚度，覆层无损检测的方法和仪器的选择随着材料物理性质研究方面的逐渐进步而更加至关重要。
有关覆层无损检测方法，主要有：楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线莹光法、β射线反射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中除了后五种外大多都要损坏产品或产品表面，系有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线反射法可以无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围小。因有放射源，故，使用者必须遵守射线防护规范，一般多用于各层金属镀层的厚度测量。
电容法一般仅在很薄导电体的绝缘覆层厚度测试上应用。
涂层测厚仪的校准方法：
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
⒈ 校准箔
对TT220涂层测厚仪“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。“箔”有利于曲面上的校准。
⒉ 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于涂层测厚仪，覆盖层应是非磁性的。
涂层测厚仪使用方法和技巧
在使用涂层波测厚仪时注意对仪器的操作步骤及使用技巧，可以大大增加涂层测厚仪的使用寿命和测量的准确度。涂层测厚仪使用注意事项：
1，使用涂层测厚仪测量时，探头一定要垂直于被测物的表面；2，测量时不要拖动探头，因为这样不仅对探头会造成磨损，也不会得到准确的测量结果；3，测量时探头线在衔接探头的位置不能过分弯曲及抖动（针对分体式涂层测厚仪），这样会影响测试效果，从而得不到准确而稳定的测量结果；4，尽量保证涂层测厚仪为专人使用和保管；5如感觉测量结果偏差比较大时，请先用随机配备的五片塑料校准片做一轮测试，如偏离允许误差较远则有可能是仪器本身出了问题，需返厂检修，切记不可自行拆卸自行维修。
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